用EOS  MODIS和MISR数据计算全球BRDF和反照率（英文）

ＷｏｌｆｇａｎｇＷａｎｎｅｒ; ＡｌａｎＨ．Ｓｔｒａｈｌｅｒ; 胡宝新; ＰｈｉｌｉｐＬｅｗｉｓ; 李小文; ＭｉｋｅＪ．Ｂａｒｎｓｌｅｙ

doi:CNKI:SUN:YGXB.0.1997-S1-021

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专辑

用EOS MODIS和MISR数据计算全球BRDF和反照率（英文）
Global BRDF and Albedo from the EOS MODIS and MISR Sensors
1997年第S1期
纸质出版：1997
DOI： CNKI:SUN:YGXB.0.1997-S1-021
稿件说明：

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[1]ＷｏｌｆｇａｎｇＷａｎｎｅｒ,ＡｌａｎＨ．Ｓｔｒａｈｌｅｒ,胡宝新,ＰｈｉｌｉｐＬｅｗｉｓ,李小文,ＭｉｋｅＪ．Ｂａｒｎｓｌｅｙ.用EOS MODIS和MISR数据计算全球BRDF和反照率(英文)[J].遥感学报,1997(S1):151-156. DOI： CNKI:SUN:YGXB.0.1997-S1-021.

Wolfgang Wanner, Alan H. Strahler, Baoxin Hu. Global BRDF and Albedo from the EOS MODIS and MISR Sensors[J]. Journal of Remote Sensing, 1997, (S1). DOI： CNKI:SUN:YGXB.0.1997-S1-021.

摘要

用空间分辨率为１ｋｍ的ＭＯＤＩＳ和ＭＩＳＲ数据可计算１６天ＢＲＤＦ和反照率产品，该文证明了在多数采样条件下，用ＭＯＤＩＳ／ＭＩＳＲ角度采样的ＢＲＤＦ和反照率反演精度在５到１０个百分点以内。

Abstract

A 16day standard BRDF and albedo product will be produced from combined MODIS and MISR data at a spatial resolution of 1km. This paper demonstrates that BRDF and albedo retrieval accuracies from simulated MODIS/MISR angular sampling are within 5 to 10 percent in the majority of sampling situations.